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透射电镜实验室

发布时间:2014-05-24
    仪器中文名称:JEM-2100高分辨型透射电子显微镜
    仪器英文名称:JEM-2100(HR) Transmission Electron Microscpe
    安装日期:2011年
    主要技术指标:
    加速电压80~200KV,高分辨极靴;
    点分辨率为0.23nm;
    晶格分辨率为0.14nm;
    放大倍数50×~1,500,000×;
    样品倾斜角度,X、Y方向±30°;
    高压稳定性≤2x10-6/min,物镜电流稳定性≤1x10-6/min
    EDS/NBD/CBD模式下,束斑尺寸为Φ1~Φ25nm;
    EDS的接受角度为0.13sr,逸出角度为25°;
    EDS分辨率129eV
    主要用途:
    对各种固体样品进行微区形貌、微区结构及微区成分分析研究。如超显微包裹体、出溶体等物相鉴定,晶胞参数、点群及空间群测定,晶体形态、粒度、界面及缺陷观察等。
    主要测试和研究领域:
    主要用于材料科学、矿物学、岩石学、矿床学、构造地质学、化学及生物医学等领域的研究
    主要附件及功能:
    Gatan 832 CCD
    Inca Energy TEM 100
    铍双倾样品台

                        
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